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產(chǎn)品名稱:北京師大光電 紫外輻照計(jì) UV313/UV340 單通道
產(chǎn)品描述:該款紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
產(chǎn)品概述:
該款紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
產(chǎn)品特點(diǎn):
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
數(shù)字液晶顯示,帶背光
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目 | 參數(shù) | 備注 |
波長(zhǎng)范圍λ1,峰值波長(zhǎng)λp | (315~370)nm,λP=340nm | 用戶二選一 |
波長(zhǎng)范圍λ2,峰值波長(zhǎng)λp | (290~340)nm,λP=313nm | |
輻照度測(cè)量范圍 | (0.1~200 000) μW/cm2 | |
相對(duì)示值誤差 | ±8% | |
余弦特性(方向性響應(yīng))誤差 | 10% | |
線性誤差 | ±1.5% | |
換檔誤差 | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開(kāi)機(jī)30min后) | |
疲勞誤差 | 3% | |
零值誤差(滿量程FS) | ±1% | |
響應(yīng)時(shí)間 | 1秒 | |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH | |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源 | 6F22型9V積層電池一只,亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電(不可充電) | |
整機(jī)功耗 | 0.1VA |
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